Тойм:

Crush бол маш ихердийнаюулгүй байдлыг шалгах туршилт cэллс, c-ийн бутлах мөргөлдөөнийг дуурайлганэллсэсвэл эцсийн бүтээгдэхүүнsөдөр тутмын хэрэглээнд. Ерөнхийдөө хоёр төрөл байдагбутлахтестүүд: хавтгайбутлахболон хэсэгчилсэнбутлах. Байртай харьцуулахадбутлах, хэсэгчилсэндоголбөмбөрцөг эсвэл цилиндр хэлбэрийн хазайлтаас үүсэх нь илүү магадлалтайэс үр дүнгүй. Дотор нь хурц байх тусам литийн батерейны үндсэн бүтцэд ачаалал их төвлөрөх тусам дотор талын хагарал илүү ноцтой болно.гол, энэ нь голын хэв гажилт, шилжилтийг үүсгэж, тэр ч байтугай электролитийн алдагдал, гал түймэр зэрэг ноцтой үр дагаварт хүргэдэг. Тэгэхээр яаж байнабутлах-д хүргэдэгидэвхгүй болгох-ийн вза? ЭндОрон нутгийн шахалтын туршилтанд цөмийн дотоод бүтцийн хувьсал өөрчлөлтийг танд танилцуулах болно.

Бутлахүйл явц:

• Шахах хүчийг эхлээд үүрний хаалтанд хийж, хаалт нь деформацид ордог. Дараа нь хүч нь батерейны дотор талд шилжиж, эсийн угсралт мөн гажигтай болж эхэлдэг.
• Бутлах толгойн цаашдын шахалтаар деформаци өргөжиж, нутагшуулалт үүсдэг. Үүний зэрэгцээ электродын давхарга бүрийн хоорондох давхаргын зайг аажмаар богиносгодог. Тасралтгүй шахалтын үед гүйдлийн коллектор нь нугалж, хэв гажилтанд орж, зүсэх тууз үүсдэг. Электродын материалын хэв гажилт хязгаарт хүрэхэд электродын материал нь хагарал үүсгэдэг.
• Деформаци нэмэгдэхийн хэрээр хагарал нь гүйдлийн коллектор руу аажмаар нэмэгдэж, урагдаж, уян хатан ан цав үүсэх болно. Үүнээс гадна радиаль хагарал нь стресс, радиаль шилжилтийн өсөлтөөс болж уртасдаг.
• Энэ үед шахах хүч нь үүрийг шахаж, илүү олон электродын давхаргад деформацид өртөхөд хүргэдэг бөгөөд энэ нь зүсэлтийн бүсийг тэлэх, налуу өнцгийг (45 °) өөрчлөх, зүсэлтийн бүсийн хүрээг цаашид өргөжүүлэхэд хүргэдэг.
• Эцэст нь диафрагмыг үргэлжлүүлэн сунгаж, мушгихад хагарал нь диафрагм хүртэл үргэлжилдэг. Идэвхгүй болгох цэгт хүрэхэд диафрагм урагдаж, зэргэлдээ электродууд хүрч, дотоод богино холболт үүсгэдэг. Энэ үед богино залгааны цэг дээр их хэмжээний богино залгааны гүйдэл үүсч, эрчимтэй халаалт, температурын хурдацтай өсөлтөд хүргэдэг бөгөөд энэ нь эсийн доторх гаж урвалыг өдөөж, улмаар дулааны зохисгүй хэрэглээ үүсч болно.

Дүгнэлт:

Crush test нь нэг төрлийн механик хүчирхийлэл юм. Механик хүчирхийлэл нь лити-ион батерейг өдөр бүр хэрэглэхэд аюулгүй байдлын зайлшгүй аюул бөгөөд энэ нь диафрагм хагарч, дотоод богино холболтыг өдөөж болно. Гэсэн хэдий ч бутлах толгойн хэлбэр, бутлах даралтын хэмжээ, эсийн хүч чадал нь өөр өөр байдаг тул бутлах туршилтын үр дүн ихэвчлэн ихээхэн ялгаатай байдаг. Бутлах туршилтаар авчирсан эсийг идэвхгүй болгохоос аль болох зайлсхийхийн тулд эсийн материал эсвэл бүтцийг оновчтой болгох шаардлагатай. Жишээлбэл, илүү найдвартай, уян хатан диафрагм ашиглах эсвэл эсийн дулаан ялгаруулах чадварыг сайжруулах нь дотоод богино холболт үүсэх үед дулааны буруугаар ашиглахаас ихээхэн сэргийлдэг.